表面密度の評価におけるJIS評価手法導入時の影響と対策

Influence and countermeasure of introduction of surface contamination evaluation method based on JIS

石田 恵一; 三上 智   ; 岩佐 忠敏; 浜崎 正章; 薄井 利英 ; 高嶋 秀樹 ; 人見 順一

Ishida, Keiichi; Mikami, Satoshi; Iwasa, Atsutoshi; Hamazaki, Masaaki; Usui, Toshihide; Takashima, Hideki; Hitomi, Junichi

大洗研究開発センターで使用している表面汚染計等に対しJIS(Z4334, Z4504;2008)による表面密度の評価方法を導入した場合の影響調査を行った結果、検出下限値の変更等により一部の表面汚染計等ではセンター内の管理基準値(:0.04Bq/cm, ():0.4Bq/cm)を満足できない場合があることなどが明らかとなった。センター内における管理基準値を満足させるために必要な管理方法の変更等具体的な対策についてサーベイメータ他を対象機器として、時定数や測定時間等の測定条件を変化させた場合、それら対象機器の検出下限値が管理基準値を満足する条件を調査した。その結果、現在の管理基準を満たすためには、測定時間の延長,スミヤ試料の採取面積の変更のほか、実験的評価により得たふき取り効率の採用等の対策が必要であることがわかった。同時に、さらに人や物品の出入りにかかわる汚染検査等放射線管理に要する時間の増加等、現場における負担増を最小限に抑えるように管理基準値の変更も含めた合理的な運用管理方法を採用することも肝要と考えられる。

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