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ガラス円筒面上でのMeVイオン散乱

MeV-ion scattering on cylindrical surface of glass

本橋 健次*; 齋藤 勇一; 宮脇 信正

Motohashi, Kenji*; Saito, Yuichi; Miyawaki, Nobumasa

近年、ガラスキャピラリーを透過するMeVエネルギーイオンビームに対して、ガラス表面近傍原子との小角散乱やチャージアップに起因すると考えられる集束効果が発見された。われわれは、同様の現象をMeVエネルギーイオンビームの偏向に応用することを考え、曲率を持つガラス面上に小角で入射した際のイオンの散乱について研究を行っている。今回、曲率半径175mmの光学用ガラス凸レンズと凹レンズを1.2mmの間隔で対向させて、湾曲した経路(経路長:約20mm)を作製した。そこに2MeVの炭素イオンビームを入射し、その入射ビーム軸に対する経路の角度を入射口を中心に回転させることにより変えて、ビームの透過率を測定する実験を行った。その結果、幾何学的にはビームが透過できない角度(10$$^{circ}$$)のときでも電流透過率が約10%になることを確認した。これにより、曲面ガラスを利用したビーム偏向の可能性が示された。

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