無衝突磁気リコネクションの加速機構における電子温度効果の役割

Role of electron temperature in acceleration mechanism of collisionless magnetic reconnection

廣田 真; Morrison, P. J.*; 石井 康友; 矢木 雅敏; 相羽 信行

Hirota, Makoto; Morrison, P. J.*; Ishii, Yasutomo; Yagi, Masatoshi; Aiba, Nobuyuki

無衝突プラズマ中で起きる速い磁気リコネクションの物理機構を理論的に解明するため、二流体プラズマモデルの変分原理に着目したアプローチによってテアリング不安定性の加速機構を解析した。これまでに、電子慣性効果によって不安定成長が加速することを示すことに成功している。本講演では、さらに電子温度効果(ホール効果+電子圧縮性)を加えたモデルへ理論を拡張し、加速機構に対する寄与を明らかにする。また、数値シミュレーションとの比較検証も行う。

For the purpose of understanding physics of fast magnetic reconnection in collisionless plasmas, acceleration mechanism of the tearing instability is analyzed by taking a variational approach to a two-fluid model. This approach has recently shown that the electronindertia effect induces acceleration of the unstable growth in the nonlinear regime. In this talk, the electron temperature effect is further incorporated into the model, and its role in the acceleration mechanism is discussed.