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高分解能X線回折によるCe$$_{0.7}$$La$$_{0.3}$$B$$_6$$ IV相の菱面体歪みの患側

Rhombohedral deformation of Ce$$_{0.7}$$La$$_{0.3}$$B$$_6$$ observed by high-resolution X-ray diffraction

稲見 俊哉; 道村 真司*; 林 佑弥*; 松村 武*; 世良 正文*; 伊賀 文俊*

Inami, Toshiya; Michimura, Shinji*; Hayashi, Yuya*; Matsumura, Takeshi*; Sera, Masafumi*; Iga, Fumitoshi*

X線回折法は結晶格子の面間隔の測定において極めて強力な手法であるが、一方で、面間隔の分解能$$Delta d/d$$は10$$^{-5}$$程度と言われており、それほど高くない。この$$Delta d/d$$を向上させる手法として高分解能X線回折法が知られており、背面反射と高分解能モノクロメータを組み合わせることにより、10$$^{-8}$$近い$$Delta d/d$$を達成することが可能となる。キャパシタンス法のような巨視的な測定法では、試料が、例えば、立方晶から菱面体晶に、あるいは正方晶から斜方晶に相転移した場合、ドメイン和しか観測できない問題点がある。X線回折ではその困難さがなく、実際、電子物性研究において10$$^{-5}$$程度の歪みの低対称相への転移の観測を求められることがあり、高分解能X線回折法の電子物性物理への摘要を試みた。実験は、SPring-8 BL22XUで行った。試料は1.4Kで立方晶から菱面体晶へ転移するCe$$_{0.7}$$La$$_{0.3}$$B$$_6$$を用いた。(444)反射と(550)反射を観測し、どちらのピークとも1.4K以下での分裂を観測することができ、5$$times10^{-5}$$程度の菱面体歪みがあること、[111]方向に伸びていること、を新たに明らかにできた。

no abstracts in English

使用言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

発行年月

 :

発表会議名

 :

第27回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

開催年月

 :

2014/01

開催都市

 :

広島

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

研究データの公開先DOI

 :

使用施設

 :

SPring-8(大型放射光施設)

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

埼玉大学; 広島大学

Access

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