Degradation behavior of LED and photo diode by irradiation

LED及びフォトダイオードの線照射による劣化挙動

武内 伴照   ; 花川 裕規 ; 柴田 裕司 ; 上原 聡明; 上野 俊二; 熊原 肇*; 土谷 邦彦 

Takeuchi, Tomoaki; Hanakawa, Hiroki; Shibata, Hiroshi; Uehara, Toshiaki; Ueno, Shunji; Kumahara, Hajime*; Tsuchiya, Kunihiko

水中でも伝送可能かつ耐放射線性をもつ可視光無線伝送システムの構築を目指して、LEDとフォトダイオード(PD)の線照射効果の評価を行った。照射劣化を評価するため、照射前後で、LEDの電流電圧特性や全光束及びPDの暗電流や受光感度を測定した。その結果、照射後に、LEDは全光束が減少するとともに樹脂レンズ部が着色したが、電流電圧特性はほとんど変化は無かった。PDは、受光感度が減少するとともに窓材の樹脂が着色したが、暗電流は高々10nA以下と低い値のままであった。これらの結果から、両素子の特性劣化の主因は半導体部分の劣化ではなく、樹脂の着色によるものであることが示唆された。

irradiation effects on LEDs and photo diodes (PDs) were evaluated toward the development of a radiation-resistant in-water wireless transmission system using visible light. The current-voltage characteristics and total luminous flux of the LEDs and the dark current and light sensitivity of the PDs were measured before and after the irradiation. After the irradiation, for the LEDs, the total luminous flux decreased and the resin lenses turned oxblood. Meanwhile, the current-voltage characteristics hardly changed. For the PDs, the light sensitivity decreased and the resin window turned oxblood while the dark currents stayed at most 10 nA. These results indicated that both the decreases of the total luminous flux of the LEDs and the light sensitivity of the PDs were mainly caused by not the degradation of the semiconductor parts but the coloring of the resin parts by the irradiation.