X線・中性子非弾性散乱による電子ドープ型銅酸化物超伝導体のスピン・電荷励起の観測
Spin and charge excitations in electron-doped copper oxide superconductors observed by X-ray and neutron inelastic scattering
石井 賢司; 藤田 全基*; 佐々木 隆了*; Minola, M.*; Dellea, G.*; Mazzoli, C.*; Kummer, K.*; Ghiringhelli, G.*; Braicovich, L.*; 遠山 貴己*; 堤 健之*; 佐藤 研太朗*; 梶本 亮一
; 池内 和彦*; 山田 和芳*; 吉田 雅洋*; 黒岡 雅仁*; 水木 純一郎
Ishii, Kenji; Fujita, Masaki*; Sasaki, Takanori*; Minola, M.*; Dellea, G.*; Mazzoli, C.*; Kummer, K.*; Ghiringhelli, G.*; Braicovich, L.*; Toyama, Takami*; Tsutsumi, Kenji*; Sato, Kentaro*; Kajimoto, Ryoichi; Ikeuchi, Kazuhiko*; Yamada, Kazuyoshi*; Yoshida, Masahiro*; Kurooka, Masahito*; Mizuki, Junichiro
銅酸化物超伝導体において、母物質の反強磁性モット絶縁体からキャリアドープにより金属・超伝導体化していく過程でスピン・電荷励起がどのように変遷してくか、また、それがホールドープと電子ドープでどのように異なるかは重要な問題である。これまでスピン励起に対して主に利用されてきた中性子非弾性散乱に加えて、内殻共鳴を利用したX線非弾性散乱(RIXS)を相補的に利用して行った電子ドープ型銅酸化物超伝導体のスピン・電荷励起の研究結果について報告する。
no abstracts in English
- 登録番号 : BB20142349
- 抄録集掲載番号 :
- 論文投稿番号 :
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.