電気冷却式HPGe検出器の日常点検から得られた知見

Findings obtained from daily check of mechanically cooled HPGe detectors

Maeda, Satoshi; Yoda, Tomoyuki; Okazaki, Tsutomu; Saegusa, Jun

原子力機構笹木野分析所では5台の電気冷却式HPGe検出器を有している。精度管理のため1日2回の日常点検(温湿度, ピーク位置, 半値幅, ピークカウントの確認)を行ってきた結果、室温が2 $^{circ}$ C変動すると1ch程度エネルギーがシフトする傾向が見出された。各値をトレンドグラフ化することで検出器の異常を早期に予見できる例もあった。

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使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	日本分析化学会第64年会
開催年月	:	2015/09
開催都市	:	福岡
開催国	:	日本
キーワード	:	Ge半導体検出器; 電気冷却; 日常点検; 品質管理; 福島第一原子力発電所事故; Fukushima Daiichi Nuclear Power Station Accident

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登録番号 : BB20150872
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