陽電子消滅測定系を用いた微小試験片評価手法の開発

Development of minute test piece evaluation technique using positron annihilation lifetime spectroscopy

安藤 太一*; 山脇 正人*; 平出 哲也  ; 秋吉 優史*

Ando, Hirokazu*; Yamawaki, Masato*; Hirade, Tetsuya; Akiyoshi, Masafumi*

陽電子寿命計測法(PALS)は金属, 半導体などのサブナノメートルサイズの空孔欠陥を評価する上で有用な手段である。PALSは線計測により行う手法であり、中性子照射試料などでは放射化の影響が問題となる。そこで、微小試験片1枚で計測を行うことを可能とする陽電子寿命計測装置の開発を行っている。微小試験片では試料以外の部分で消滅した陽電子の情報を取り除くことが必要となり、試料周囲をシンチレータで囲み、取り除くイベントを抽出することを試みており、その発光によりアンチコインシデンス手法を用い20%程度取り除くことに成功した。

Positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) is very strong tool to investigate sab-nanometer scale defects in metals and semiconductors. PALS is based on the -ray measurement techniques and it is difficult to measure radioactive samples such as Neutron irradiated samples. Therefore we are creating a method by which you can measure PALS for one very small radioactive sample. It is needed to reject events that positrons annihilate at outside of the sample. We placed the sample at a small space between scintillators and used signals from the scintillators for the anti-coincidence method to reject the events. We succeeded to reject 20% of the events.