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模擬放射性廃棄物ガラス中のB, NaのXAFS解析評価

Boron and sodium K-edge XAFS analysis of simulated radioactive waste glasses

永井 崇之  ; 岡本 芳浩  ; 山中 恵介*; 太田 俊明*

Nagai, Takayuki; Okamoto, Yoshihiro; Yamanaka, Keisuke*; Ota, Toshiaki*

ガラス固化体組成であるホウケイ酸ガラスに係る基盤的な知見を蓄積するため、模擬廃棄物ガラス試料中の廃棄物成分の局所構造をXAFS測定等で評価している。今回、原料ガラスへ廃棄物成分が含まれた際の原料ガラス成分であるホウ素(B)とナトリウム(Na)の局所構造変化を明らかにするため、BとNaのK吸収端XAFS測定を行った。

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