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模擬放射性廃棄物ガラスのXAFS測定研究

XAFS analysis of simulated radioactive waste glasses

永井 崇之  ; 岡本 芳浩  ; 山岸 弘奈*; 太田 俊明*

Nagai, Takayuki; Okamoto, Yoshihiro; Yamagishi, Hirona*; Ota, Toshiaki*

ガラス固化体中の原料ガラス成分や廃棄物成分の化学的状態や局所構造を明らかにするため、XAFS測定等により模擬廃棄物ガラスを評価している。今回、原料ガラス成分であるホウ素とナトリウムや基本組成である酸素のK端等をXAFS測定し、ガラス試料中の廃棄物濃度等による影響を調査した。

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