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Position dependency of the scattered intensity in the time-of-flight backscattering spectrometer DNA

飛行時間分析型後方散乱分光器DNAにおける散乱強度の位置依存性

松浦 直人*; 山田 武*; 富永 大輝*; 小林 誠*; 中川 洋  ; 川北 至信 

Matsuura, Masato*; Yamada, Takeshi*; Tominaga, Taiki*; Kobayashi, Makoto*; Nakagawa, Hiroshi; Kawakita, Yukinobu

飛行時間分析型後方散乱分光器DNAにおける散乱強度の位置依存性を調査した。垂直方向(位置敏感一次元検出器(PSD)のピクセル方向)と水平方向(PSD毎)の両方で周期的な構造が見られた。DNAに設置されたソラースリットとアナライザー結晶の設計値を超えた過度な湾曲が、強度分布の起源であると考えられる。我々は、強度の位置依存性と弾性散乱のエネルギーオフセットを系統的に補正できるソフトウェアを開発した。このソフトウェアにより、本来の散乱強度からのずれが補正でき、エネルギー分解能などのデータの質も向上させることができる。

The position dependence of the scattered intensity in the time-of-flight backscattering spectrometer DNA was investigated. A periodic structure for both vertical (pixel) and horizontal (PSD) directions was observed. The solar slit and over-bending of an analyzer crystal is discussed as a possible origin of the modulation in the intensity. We have developed software program for the systematic correction of the position-dependent intensity and offset energy for the elastic peak. This corrects the deviation from the true scattering intensity and improve the quality of the data, which includes the energy resolution.

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