小原 真司*; 鈴谷 賢太郎; 柏原 泰治*; 松本 徳真; 梅咲 則正*; 坂井 一郎*
Kohara, Shinji*; Suzuya, Kentaro; Kashihara, Yasuharu*; Matsumoto, Norimasa; Umesaki, Norimasa*; Sakai, Ichiro*
高エネルギーX線の利用は液体やガラスなどの回折測定において、透過法で高いQまで測定できるため、正確な構造解析を可能にする。そこで、われわれは高強度の高エネルギーX線が利用できるSPring-8の偏向電磁石ビームラインBL04B2に液体・非晶質専用の水平型2軸回折計を設計、製作した。湾曲Si(111)モノクロメーターによる37.7keV及び湾曲Si(220)モノクロメーターによよる61.7keVの高エネルギーX線単色光を用いた回折実験を行い、標準試料であるシリカ(SiO
)ガラスで、Q
=30Å
を超える高Q領域まで精度よく構造因子S(Q)を決定することに成功した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 467-468 |
号 |
: | Part.2 |
ページ数 |
: | p.1030 - 1033 |
発行年月 |
: | 2001/07 |
発表会議名 |
: | 7th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation (SRI 2000) |
開催年月 |
: | 2000/08 |
開催都市 |
: | Berlin |
開催国 |
: | Gernamy |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：99.12 分野：Instruments & Instrumentation |
Altmetrics |
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