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A Horizontal two-axis diffractometer for high-energy X-ray diffraction using synchtoron radiation on bending magnet beamline BL04B2 at SPring-8

SPring-8偏向電磁石ビームラインに設置された高エネルギーX線回折用水平型2軸回折計の製作と性能評価

小原 真司*; 鈴谷 賢太郎; 柏原 泰治*; 松本 徳真; 梅咲 則正*; 坂井 一郎*

Kohara, Shinji*; Suzuya, Kentaro; Kashihara, Yasuharu*; Matsumoto, Norimasa; Umesaki, Norimasa*; Sakai, Ichiro*

高エネルギーX線の利用は液体やガラスなどの回折測定において、透過法で高いQまで測定できるため、正確な構造解析を可能にする。そこで、われわれは高強度の高エネルギーX線が利用できるSPring-8の偏向電磁石ビームラインBL04B2に液体・非晶質専用の水平型2軸回折計を設計、製作した。湾曲Si(111)モノクロメーターによる37.7keV及び湾曲Si(220)モノクロメーターによよる61.7keVの高エネルギーX線単色光を用いた回折実験を行い、標準試料であるシリカ(SiO$$_{2}$$)ガラスで、Q$$_{max}$$=30Å$$^{-1}$$を超える高Q領域まで精度よく構造因子S(Q)を決定することに成功した。

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