Galindo, V.*; Ciarynski, D.*; Duchateau, J. L.*; 西島 元; 小泉 徳潔; 高橋 良和; 安藤 俊就
Galindo, V.*; Ciarynski, D.*; Duchateau, J. L.*; Nishijima, Gen; Koizumi, Norikiyo; Takahashi, Yoshikazu; Ando, Toshinari
原研において試験が進められている中心ソレノイド(CS)モデル・コイルは、(1)形状と接続方法に起因する素線間電流分布の不均一、及び、(2)Nb
Sn素線の受ける歪の2つの因子によって通電特性が大きく左右される。そこで、Summersの式に基づいた計算コードを用いて臨界電流特性をすべての導体に対して計算した。この際、ジョイント抵抗、導体長、横断抵抗は等価回路によって考慮した。また、磁場分布、歪、電流の流れ込みも考慮した。実験結果との比較も行う。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 11 |
号 |
: | 1 |
ページ数 |
: | p.1538 - 1541 |
発行年月 |
: | 2001/03 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2000/09 |
開催都市 |
: | Virginia Beach |
開催国 |
: | U.S.A. |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：57.85 分野：Engineering, Electrical & Electronic |
Altmetrics |
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