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Current distribution and strain influence on the electromagnetic performance of the CS insert

中心ソレノイド・モデル・コイルの通電特性における電流分布と歪の影響

Galindo, V.*; Ciarynski, D.*; Duchateau, J. L.*; 西島 元; 小泉 徳潔; 高橋 良和; 安藤 俊就

Galindo, V.*; Ciarynski, D.*; Duchateau, J. L.*; Nishijima, Gen; Koizumi, Norikiyo; Takahashi, Yoshikazu; Ando, Toshinari

原研において試験が進められている中心ソレノイド(CS)モデル・コイルは、(1)形状と接続方法に起因する素線間電流分布の不均一、及び、(2)Nb$$_{4}$$Sn素線の受ける歪の2つの因子によって通電特性が大きく左右される。そこで、Summersの式に基づいた計算コードを用いて臨界電流特性をすべての導体に対して計算した。この際、ジョイント抵抗、導体長、横断抵抗は等価回路によって考慮した。また、磁場分布、歪、電流の流れ込みも考慮した。実験結果との比較も行う。

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分野:Engineering, Electrical & Electronic

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