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峰 雅夫*; 竹内 純*; 寺内 睦美*; 漆原 広*; 吉川 暁*
PNC TJ2124 98-006, 235 Pages, 1998/03
平成7年度で実施した「線源評価システムの概念検討」および平成8年度で実施した「高速炉線源評価システムの構築(1)」の成果に基づき、プリプロセッサ部並びにポストプロセッサ部を製作し、線源評価システムとしての統合化を行なった。プリプロセッサ部には、最新のコンピュータ利用技術で将来性のあるインターネットのブラウザ機能を使い、汎用的で且つネットワーク上の異機種のコンピュータから利用できる形態とした。また、QAD-CGGP2解析コードの幾何形状データに対しては、CADソフトを使用して設定ができるようにした。一方、ポストプロセッサ部には、計算条件や計算結果がタイムリーにビジュアルな形で表示できる機能を持たせ、利用者が簡単な操作で任意にデータを加工し可視化できるようにした。このポストプロセッサの個々のアプリケーション・プログラムは、汎用的で最新のソフトウエアが簡単に利用できるプラグイン・モジュールの形態を持たせた。そのうえで、製作された線源評価システムを統合化し、機能並びに動作を確認した。主な実施内容は、以下の通りである。(1)プリプロセッサの製作 インターネットのブラウザを中心に、ユーザインタフェース部、データファイルとのデータ授受、アプリケーションとの連動などの機能を持ったプリプロセッサ部を製作した。(2)ポストプロセッサの機能設計と製作 ホストプロセッサの機能設計を行い、計算結果のデータファイル化、計算結果のデータ変換部の製作、可視化ソフトとのインタフェース部の製作を行った。(3)線源評価システムの統合化 ワークステーション上にWeb環境を構築し、CP挙動解析コードPSYCHE、線量率解析コードQAD-CGGP2、CGIプログラムをインストールした。また、CADソフト、AVS可視化ソフト、EXCEL、インターネットブラウザのソフトをPCにインストールし、システム機能の動作確認と総合テストを実施した。その結果、当初の目標を達成することが出来た。
松島 秀介*; 堤 潔*; 加藤 恭義*; 漆原 広*; 上田 靖之*
PNC TJ202 76-01, 151 Pages, 1976/05
高速炉燃料ピンのペレットと被覆管の機械的相互作用(PCMI)を記述する計算モデルの開発を行なった。このモデルは高速炉の定常運転時におけるPCMIの記述を目的としている。既存の燃料照射挙動計算コードのPCMIモデルを調査し,比較した。燃料ペレット・被覆系の応力・歪み場の記述に,軸対称・平面歪み近似を採用している点は,高速炉燃料ピンの種々のPCMIモデルに共通している。しかし,最近の照射実験データには被覆管の塑性変形と炉の出力サイクルに強い相関性を示唆するものもみられる。出力変動時に強いPCMIが起る場合を想定すると,ペレット・クラックによる被覆管への応力集中の可能性もある。このような背景から,ここで開発したPCMIモデルにつぎの特徴をもたせた。(i)定常照射中のPCMIの記述には軸対称・平面歪み近似を採用した円柱モデルを用いる。(ii)出力変動時に強いPCMIが予期される場合には,非軸対称・平面歪み,または平面応力近似によるPCMIモデル((R一)モデル)により,(i)の記述を補足する機能をもたせる。 これらのモデルを計算機コード化するための準備も行なった。さらに,モデルの実験データとのフィッテングに必要と考えられる,炉内・炉外実験について提案した。
漆原 あゆみ; 牛込 剛史; 鹿園 直哉; 藤井 健太郎; 田内 広*; 横谷 明徳
no journal, ,
近年、電離放射線の照射によって複数の損傷が近接したクラスターDNA損傷が生じ、これが放射線による致死や突然変異誘発等の原因であると予想されている。われわれはクラスター損傷の性質を解明するために、イオンビームの種類とLETを変えて(19, 63及び121keV/mのヘリウムイオン,87, 123, 342及び507keV/mの炭素イオン)、高水和状態に保ったpUC18プラスミドDNAに照射し、生じた鎖切断(ssb, dsb)生成頻度及び、照射後の修復酵素(Nth, Fpg)処理によって生じる鎖切断生成頻度の測定を行った。その結果、ヘリウムイオン照射により直接誘発されるssb量は121keV/m照射で若干低下し、一方dsb量は63keV/mにピークが現れた。また、各修復酵素処理後の鎖切断の増加量を比較したところ、LETの増加に伴い酵素修復効率の低下が見られた。LETの増加に伴いdsbが増加し、酵素による修復効率が低下していくという本研究の結果は、単独損傷が次第に密集しクラスター化して行く過程を捉えたものと考えられる。また、炭素イオンにおいても同様に研究を進めており、その結果も併せて報告したい。
横谷 明徳; 牛込 剛史; 鹿園 直哉; 藤井 健太郎; 漆原 あゆみ; 鈴木 雅雄*; 田内 広*; 渡辺 立子
no journal, ,
本研究の目的は、放射線によるエネルギー付与の空間構造とDNA損傷の性質の関連を明らかにすることである。高水和状態のDNA薄膜を照射試料とし、ラジカル補足剤濃度を変えた溶液試料に対する軟X線(150kVp)照射による1本鎖切断(SSB)収率との比較を行った。次に高水和DNA試料に対してさまざまなイオン粒子を照射し、生じたSSBと2本鎖切断(DSB)に加え、8-oxoGなど塩基除去修復酵素(EndoIII(Nth)及びFpg)処理によりSSBに変換され得る酸化的塩基損傷と、これらがクラスター化してDSBとして検出される損傷の収率を調べた。その結果、(1)細胞内環境では全SSB収率のうち約30%が直接効果により生じること,(2)SSB収率はほとんどビームの性質に依存しないがDSBは複雑に依存すること,(3)酵素処理により検出される塩基損傷は軟X線領域で最大となるがLETの増大とともに劇的に減少し、(4)同じLET領域でもイオンビームに比べ光子の方が高い塩基損傷収率を与え、さらに(5)すべての放射線照射でFpgよりNth処理の方が有意に大きなSSB収率を与えることが明らかになった。