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工藤 博*; 熊木 卓*; 春山 克広*; 塚本 芳明*; 関 整爾*; 楢本 洋
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 174(4), p.512 - 518, 2001/05
被引用回数：1 パーセンタイル：12.96(Instruments & Instrumentation)7MeV H
を曲げ変形したKCl及びNaClに入射し、チャネリング条件の前後で、2次電子放出量の角度依存性から、結晶格子の傾き角(歪)を再評価した。この測定で、これらアルカリハライドの塑性変形時には刃状転位が空間的に規則配列することを例示することができた。
工藤 博*; 中村 直樹*; 渋谷 光樹*; 鳴海 一雅; 山本 春也; 楢本 洋; 住友 弘二*; 関 整爾*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 168(2), p.181 - 191, 2000/06
被引用回数：2 パーセンタイル：26.91(Instruments & Instrumentation)イオン誘起2次電子分光法は、重元素マトリックス上の軽元素(炭素等)の結晶学的解析に有効な唯一の手法である。しかし、広く一般化した手法として確立するためには、電子波の干渉のない条件で、2次電子放出現象を記述するパラメータの有効性を確認する必要がある。本実験では、非晶質宋の厚さの関数として、100keV/UのH,He及び3.5MeV/UのO
をターゲットに入射して、2次電子スペクトルを測定した。その結果、SiのL殻電子によってシャドーイングを受けると考えれば、有効試料厚さ及び電子の有効脱出深さの二つのパラメータにより、2次電子放出挙動を説明できることを明らかにした。
工藤 博*; 関 整爾*; 住友 弘二*; 鳴海 一雅; 山本 春也; 楢本 洋
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 164-165, p.897 - 902, 2000/04
被引用回数：2 パーセンタイル：26.91(Instruments & Instrumentation)本研究では、イオン誘起2次電子分光法の確立に重要な二つのパラメータ(有効試料厚さ及び電子の有効脱出距離)の有効性を、高エネルギーイオン(8.0MeV/UのH,He
)を入射して調べた。その結果、低エネルギー(100keV/U)から高エネルギー(8.0MeV/U)まで、広い範囲にわたり、上記二つのパラメータにより2次電子放出挙動を記述できることが明らかになった。
工藤 博*; 坂本 昭彦*; 山本 春也; 青木 康; 楢本 洋; 井上 知泰*; 佐藤 政孝*; 山本 康博*; 梅澤 憲司*; 関 整爾*
Japanese Journal of Applied Physics, Part 2, 35(11B), p.L1538 - L1541, 1996/11
イオンチャネリング現象がはじまる表面層での、単一散乱条件下での2次電子を検出すると、準表面層の原子配列を高感度に評価可能であることを示している。2次電子は、keVオーダーの内殻に属するものを検出して原子配列の情報とした。実例を示すために、Ni及びCeO
単結晶について通常のRBS法の場合と対比した。
