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椛澤 稔
平成9年度核融合科学研究所技術研究会報告書, p.201 - 204, 1997/00
JT-60U負イオンNBI装置用ITV及び赤外カメラは、ビームライン機器をビームによる損傷等の異常を監視するとともにビーム特性の測定を目的として設置したものである。このITV及び赤外カメラの現状及び問題点について報告する。
神谷 富裕; 湯藤 秀典; 田中 隆一
第5回タンデム加速器及びその周辺技術の研究会報告集, p.116 - 119, 1992/07
宇宙用半導体素子のシングルイベント効果の機構解明及びヒット部位依存性評価のため製作された重イオンマイクロビーム装置は、マイクロビーム集束、ビーム照準及びシングルイオンヒットが可能なように設計されている。本装置の制御は、精密レンズ、ビームシフター、ファラデーカップ及びスリット等のビームライン機器の制御と、ビームスキャナー、2次電子検出器及びターゲットステージ等のターゲットシステムの制御に分けられ、それぞれ計算機を介して遠隔で行われる。このシステムを用いてビームサイズ計測やビーム照準が行われ、これまでに15MeVのNi
ビームで0.7
1.1
m
のスポットサイズが確認された。なお、シングルイオン検出器のオフラインでの調整が現在進められており、今後ターゲットシステムに組み込まれる予定である。
伊藤 孝雄; 堀池 寛; 松岡 守; 松田 慎三郎; 小原 祥裕; 田中 茂
JAERI-M 9226, 46 Pages, 1980/12
JT-60用中性粒子入射加熱装置(NBI)において、イオンビームの30%が中性化されてJF60に入射される。残りのイオンビームは偏向磁石で曲げて、ビームダンプ等に当てて処理する。このイオンビームパワーはNBI1ユニットあたり5.6MWにもなると予想している。イオンビームの衝突により生じるビームライン機器の熱負荷及びその分布を見積ることはビームライン機器を設計する上で重要である。これらの見積もりを行う目的で開発したイオンビーム熱負荷計算コードでは偏向磁場が入力変数として取り扱われ、有限個の試験粒子がイオンビームを模擬している。本報では、このコードの計算方法、プログラムの概要、テストランの一部について述べる。現在、このコードによって見積られた熱負荷や熱負荷分布を用いてJT-60用NBIビームライン機器の設計を行っている。
