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論文

化学発光分析による絶縁材料の放射線・熱劣化の評価,第3報

八木 敏明; 森田 洋右; 瀬口 忠男; 池原 潤一郎*

電気学会誘電・絶縁材料研究会資料; DEI-94-90, 0, p.21 - 28, 1994/12

EPR、XLPE、PVC及びハイパロンについて、化学発光分析により放射線酸化後の熱酸化速度の温度依存性を調べた。放射線酸化で生成される過酸化物の分解で化学発光は増大するが、室温で長時間放置するか、真空中高温で短時間処理すると消滅する。この消滅の過程で材料の劣化は加速されないことがわかった。放射線酸化を行うとその後の熱酸化は加速されるが、試験した4種類の絶縁材料では高温から室温付近まで、熱酸化の活性化エネルギーが変わらず、55~60kJ/molの値を得た。

論文

化学発光分析による絶縁材料の放射線・熱劣化の評価,第2報

八木 敏明; 森田 洋右; 瀬口 忠男

DEI-93-155, p.19 - 26, 1993/12

添加剤の種類を変えたエチレンプロピレンゴム(EPR)を用い、放射線酸化後における熱酸化速度の温度依存性を化学発光分析により調べるとともに、添加剤(特に酸化防止剤)の化学発光への影響を調べた。多環状芳香族系の酸化剤は酸化防止作用とは無関係に化学発光を著しく増感させ、特に長波長側の発光を誘発させることが分かった。これはEPRの酸化で生成される、カルボニルの励起エネルギーが添加剤に移動しているものと推定された。化学発光の活性化エネルギーは添加剤の種類にさほど依存せず、50~60KJ/molであることが確かめられた。このことから化学発光分析法を用いることにより、実用環境での酸化劣化速度を推定する見通しを得た。

論文

エラストマーの照射劣化に対する2,3の測定方法

伊藤 政幸

DEI-92-113, p.57 - 62, 1992/12

放射線の照射によるゴムの劣化は、ゴム分子鎖の切断と架橋、極性基とハイドロパーオキサイドの蓄積によって引き起こされるので、線量と各々の反応量との関係を求める事は重要である。本報では以下の3点について最近のデータを含めてまとめた。1.化学応力緩和を用いた切断と架橋のG値を求める方法の検討。2.照射に伴うC=0基の生成量を赤外吸収スペクトルによって求め、その濃度と体積固有抵抗値との関係の検討。3.照射による化学発光量の増加の様子を測定し、発光量に及ぼす酸化防止剤の影響を、照射に伴うハイドロパーオキサイドの蓄積を仮定しての検討。

論文

化学発光分析による絶縁材料の放射線・熱劣化の評価

八木 敏明; 瀬口 忠男

DEI-92-114, p.63 - 71, 1992/12

電線・ケーブル絶縁材料の放射線と熱による複合劣化から寿命を推定するために、酸化劣化を高感度で検出できる化学発光分析法について検討した。エチレンプロピレンゴム(EPR)を用い、低温から高温までの広い温度域における酸化速度を調べるとともに、放射線照射による熱酸化の加速を解析した。酸素中で照射を行うと、試料の発光量は線量に依存して増大し、各温度での発光量はごく初期にピーク値をもつ曲線となる。一方、照射後真空中熱処理により照射中に蓄積した発光種を消滅させた場合には発光量は線量に依存するが経過時間に対しては一定の値を示す。この時の発光量は40$$^{circ}$$Cから140$$^{circ}$$Cの温度領域においてアレニウスの式に従い、その活性化エネルギーは58kJ/molの値を得た。この値は機械的特性の劣化より求めた均一酸化領域での値に対応していることが分かった。

報告書

Identification methods for irradiated wheat

S.Zhu*; 久米 民和; 石垣 功

JAERI-M 92-014, 25 Pages, 1992/02

JAERI-M-92-014.pdf:0.62MB

照射小麦の検知法の開発を目的として、小麦の照射による種々の変化について検討した。発芽試験では、芽の伸長が500Gyで著しく阻害され、貯蔵中も変化しなかった。発芽率の減少は、3300Gyで検出された。胚芽の酵素活性を発芽試験装置(バイタスコープ)で測定した場合には、10kGyで検知できた。アミノ酸分析では、10kGyでリジンの減少が認められたが、わずかな変化であり検知に用いるのは難しいと考えられた。化学発光強度は、照射線量に比例して高くなったが、貯蔵中に減少した。10kGy照射した場合では、3ヶ月貯蔵後でも検知できた。ESR測定では、皮を除いた小麦のg値2.0055におけるシグナルが線量に比例して増加した。これらの方法の中で、発芽試験法が最も感度がよく、照射小麦の検知法として効果的であった。

論文

材料劣化の少ない電子線滅菌

吉井 文男

医科器械学, 62(2), p.78 - 86, 1992/02

原研では医療用具素材であるポリプロピレン(pp)の電子線とガンマ線の照射劣化の比較と耐放射線性を上げるための研究を行っている。電子線照射はガンマ線よりも照射中の酸化劣化および照射後の経時劣化が少なく、その違いは化学発光法による酸化量の測定から明らかにした。耐放射線性の高いppは、エチレンと共重合した共重合体、高分子量ppおよび成形後急冷によって得たポリマーであることが分った。以上の結果をもとに医療用具素材の照射効果からみた電子線滅菌についてまとめた。

論文

放射線を照射したEPR純ゴムの熱劣化に伴う化学発光とC=0基の生成

伊藤 政幸

DEI-91-129, p.75 - 82, 1991/12

線量を変えて照射したEPRに種々の温度で熱を加え、加熱中の酸化反応の程度を反映している化学発光と酸化反応の結果EPR中に蓄積されるC=0基とを測定した。線量を異にする試料を一定温度に保ちながら化学発光を測定した。温度は60$$^{circ}$$Cから10$$^{circ}$$Cおきに160$$^{circ}$$C迄を選んだ。いずれの温度でも僅かな線量(27kGy)で発光量は著しく増加するが、51kGy以上ではほとんど変わらない。発光量の活性化エネルギーは線量に依存せず82.7kJ/molである。線量を異にする試料について、熱暴露時間とC=0基の濃度との関係を調べると、C=0基の増加速度は線量に依存せず、温度のみに依存することが明らかになった。照射後のC=0基の濃度をCo、その試料をt時間熱暴露した時の濃度をCとすると、速度定数Kは(1)式で定義できた。60$$^{circ}$$Cから140$$^{circ}$$Cの範囲でのKの活性化エネルギーとして95.8kJ/molを得た。Log(C/Co)=Kt(1)

論文

放射線減菌したポリマーの安定性,II; 電子線照射した後の経時劣化

吉井 文男; 佐々木 隆; 幕内 恵三; 田村 直幸

医科器械学, 55(5), p.251 - 255, 1985/00

ディスポーザブル注射器に使われている組成の異なるポリプロピレンとポリメチルペンテンの電子線と$$gamma$$線照射した後の経時劣化を調べ、その劣化挙動を化学発光分析による発光の減衰量と関連づけて考察した。ホモポリプロピレンは照射中の劣化が大きいために、顕著な経時劣化は認められなかった。コポリプロピレンは照射後3ヶ月くらいまでの比較的初期に劣化するが、それ以後はあまり大きな経時劣化は認められなかった。さらに、コポリプロピレンの電子線照射後の経時劣化は$$gamma$$線に比べて極めて小さく、滅菌線量(2.5Mrad)では経時劣化が認められなかった。経時劣化は化学発光分析の結果から、保存前の発光量に依存することが分った。経時劣化は耐放射線性ポリプロピレンとポリメチルペンテンには全く認められなかった。経時劣化は保存中の雰囲気にも影響され、真空中保存の方が空気中よりも劣化しにくかった。

論文

Durability of radiation-sterilized polyners, I; Estimation of oxidative degradation in polymers by chemiluminescence

吉井 文男; 佐々木 隆; 幕内 恵三; 田村 直幸

J.Appl.Polym.Sci., 30, p.3339 - 3346, 1985/00

 被引用回数:41 パーセンタイル:86.50(Polymer Science)

医療用具の放射線滅菌に関して、$$gamma$$線と電子線によるホモポリプロピレン(HP),コポリプロピレン(CP)およびポリメチルペンテンの照射中の劣化を比較し、その劣化の程度と化学発光分析による発光量との関係を調べた。HPは電子線と$$gamma$$線のいずれの照射でも2.5Mradの滅菌線量で著しく劣化した。CPとポリメチルペンテンは電子線と$$gamma$$線とで劣化の挙動が大きく異なり、電子線照射の方が$$gamma$$線よりも安定であった。劣化はこの3種のポリマーの中でポリメチルペンテンが照射に対して最も安定であった。パーオキシラジカルの再結合反応により発光する化学発光量が線量とともに増大し、ポリマーの劣化とよく対応した。ポリマーの劣化は$$gamma$$線と電子線による照射線源によらず酸化のみに依存することが分った。このように化学発光分析は照射ポリマーの劣化を評価するのに極めて有益であることが明らかとなった。

論文

医療用具の放射線滅菌; 化学発光分析によるポリマーの発光量と劣化との関係

吉井 文男; 佐々木 隆; 幕内 恵三; 田村 直幸

東北電子産業レポート, 1985, p.1 - 4, 1985/00

ディスポーザブル注射器に使われているポリプロピレンの電子線と$$gamma$$線の照射中における劣化を調べた。さらにこの劣化を化学発光分析によって求めた酸化度と関連づけて考察した。ホモポリプロピレンは滅菌線量(2.5Mrad)の照射で電子線と$$gamma$$線いずれでも著しく劣化した。コポリプロピレンとポリメチルペンテンは電子線と$$gamma$$線とで劣化の挙動が異なり、電子線の方が$$gamma$$線よりも劣化しにくかった。この劣化挙動とパーオキシラジカルの2分子停止反応により発光する化学発光量(酸化度)と対比させると、HPは酸化度の少ないところで分解し、ポリメチルペンテンは酸化量の比較的大きいところでも安定であった。劣化は電子線と$$gamma$$線の照射線源の種類によらず、酸化量に依存することが分った。以上のように化学発光分析は照射したポリマーの劣化を評価するのに極めて有効であった。

論文

化学発光を用いたポリエチレンの放射線酸化劣化の研究

森田 洋右

東北電子産業レポート(化学発光特集号), 1985, p.1 - 4, 1985/00

ポリエチレン(PE)などの有機高分子材料に$$gamma$$線や電子線を照射すると,高分子の種類や照射雰囲気にもよるが,主に高分子主鎖間の橋かけ反応あるいは高分子主鎖の切断反応のいずれかが起こる。このため高分子材料の物性が顕著に変化する。このような高分子の照射効果は1940年代後半から多くの研究がなされている。

報告書

高線量率加速器の運転に伴ない発生するオゾンおよび窒素酸化物の処理について

杉浦 俊男; 中井 洋太; 高垣 虎雄; 後藤田 正夫; 神山 秀雄; 竹崎 淳一; 永井 士郎

JAERI-M 5388, 64 Pages, 1973/09

JAERI-M-5388.pdf:2.31MB

本報告は、大阪研究所における表題の目的により結成されたワーキンググループの作業経過、オゾンおよび窒素酸化物発生量の推定、これら有害ガスに関する各種調査結果、および以上にもとづき設計したこれら有害ガスの除去装置の説明をまとめたものである。実験により、オゾンおよび二酸化窒素は当該条件下で活性炭による吸着および分解が最も効率よくかつ安価に除去しうることが明らかとなった。しかしオゾンを吸着した活性炭は突燃、爆轟をする危険があり、これを避けるために微粉活性炭を重量で約20%天然のシリカアルミナゲル中に分散成形したものを使用し実験を行なった。この処理剤は当該条件下でオゾンおよび二酸化窒素に対し十分な処理能力を持ち、かつ全く突然、爆轟の危険がないことが明らかとなり、実際の装置の処理剤として採用した。

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