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前野 勝樹; 片桐 政樹; 鈴木 紀男; 藤沢 登
JAERI-M 7431, 20 Pages, 1977/12
本報告書は、高密度化におけるJFT-2プラズマの低周波振動を磁気プローブとX線半導体検出器とを用いて調べた結果を述べたものである。高速ガス注入による電子密度の増加の過程においてはm=1、n=1の内部振動は発生しない。ガス注入を中断するとm=1、n=1の内部振動あるいはm=0、n=0の内部スパイク振動が発生する。高密度化の限界は電圧のネガティブスパイクにある。ネガティブスパイクの直前においては、m=1、m=2の振動が成長し、これらの振動がネガティブスパイクをひきおこしている。
竹田 辰興; 下村 安夫; 太田 充; 吉川 允二
JAERI-M 4890, 44 Pages, 1972/07
強い縦磁場中に置かれた、電流のある円筒プラズマの安定解析に、有限要素法を応用する事が提案された。数値分析の結果は別論文にて発表される。本報告書はこれらの論文を捕捉するものでまた重複する箇所もあるが、その目的は次の通りである。第一に、本報告書は、新しい結果、および論文を簡潔にする為省かれた内容等をも含めて、今まで得られた全ての結果を包括するものである。第二には、計算機プログラムを使用する人にとって、本報告書がマニュアルの役目を果すように、解析の方法が詳細に且つ包括的に述べられている。更に、一般のトロイダルプラズマの安定性を解析する為に現在準備中の新しい計算機プログラムの定式化が述べられている。
