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Hydrogen isotope behavior in in-vessel components used for DD plasma operation of JT-60U by SIMS and XPS technique

SIMS, XPSによるJT-60UのDD放電タイル中の水素同位体挙動

大矢 恭久*; 廣畑 優子*; 森本 泰臣*; 吉田 肇*; 児玉 博*; 木津 要; 柳生 純一; 後藤 純孝*; 正木 圭; 奥野 健二*; 田辺 哲朗*; 宮 直之; 日野 友明*; 田中 知*

Oya, Yasuhisa*; Hirohata, Yuko*; Morimoto, Yasutomi*; Yoshida, Hajime*; Kodama, Hiroshi*; Kizu, Kaname; Yagyu, Junichi; Goto, Yoshitaka*; Masaki, Kei; Okuno, Kenji*; Tanabe, Tetsuo*; Miya, Naoyuki; Hino, Tomoaki*; Tanaka, Satoru*

JT-60UのDD放電実験を行ったダイバータ領域のタイル(ドームユニット,外側ダイバータ,外側バッフル板)中の水素同位体分析について二次イオン質量分析法(SIMS)を用いて行った。また、グラファイト,ボロン,酸素の化学状態についてX線光電子分光法(XPS)を用いて分析した。その結果、タイル内部の水素,重水素量はドームユニット,外側バッフル板で高く、外側ダイバータでは低かった。これらの結果からグラファイトタイル中の水素濃度はDD放電実験時のタイル温度,イオンフラックスなどに大きく影響していると考えられる。また、XPSの結果より、ドームユニットの内側部分においてC-1sピーク位置の大きな変化が見られ、タイル表面では炭化水素が形成されていることが示唆され、これらの結果はSIMSの分析結果とよく一致する結果であった。また表面にはボロニゼーションの結果堆積したと考えられるボロンも存在していることが明らかとなった。

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