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Fast fluorescence decay of naphthalene induced by Ar ion irradiation

Arイオン照射によるナフタレンからの早い発光減衰

田口 光正; 青木 康; 南波 秀樹; 渡辺 立子*; 松本 裕一*; 平塚 浩士*

not registered; Aoki, Yasushi; Namba, Hideki; Watanabe, Ritsuko*; not registered; not registered

TIARA内のサイクロトロンに接続した垂直ポートに時間分解発光測定を行うためのシングルフォトンカウンティングシステムを構築した。高分子フィルム中のナフタレンにArイオン照射したところ、S$$_{1}$$励起状態からの発光が観測された。さらに発光減衰を測定したところ早い成分が観測され、LET依存性を示すことが分かった。これはシミュレーションの結果、LETの増加にともない励起される分子の数が相対的に増えることが原因であることが分かった。

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