Investigation of causality in the H-L transition on the JFT-2M tokamak

JFT-2MにおけるH-L遷移の因果関係

花田 和明*; 篠原 孝司*; 長谷川 真*; 白岩 俊一*; 遠山 濶志*; 山岸 健一*; 大舘 暁*; 及川 聡洋; 戸塚 裕彦*; 石山 英二*; 篠田 直明*; 斎藤 広宣*; 吉田 貴行*; 中島 功雄*; 牛込 雅裕*; 三浦 幸俊; 荘司 昭朗; 川島 寿人; 星野 克道; 永島 圭介; 玉井 広史 ; 鈴木 紀男; 前野 勝樹; 山内 俊彦; 石毛 洋一; 小川 宏明; 仙石 盛夫; 上原 和也; 佐藤 正泰; 椎名 富雄; 佐々木 雅敏*; 小川 俊英; 大麻 和美; 河上 知秀; 河西 敏; 旭 芳宏*; Maeda, M.*; 長谷川 浩一; 伊藤 和之*; 柏 好敏; 菊池 一夫; 小池 常之; 小又 将夫; 大内 豊; 岡野 文範; 斎藤 雅也*; 沢畠 正之; 関 信夫*; 柴田 孝俊; 鈴木 貞明; 竹内 浩; 谷 孝志; 冨山 善実*; 海野 一美*

not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; Oikawa, Toshihiro; not registered; not registered; not registered; not registered; Yoshida, Takayuki*; not registered; not registered; Miura, Yukitoshi; Shoji, Teruaki; Kawashima, Hisato; Hoshino, Katsumichi; Nagashima, Keisuke; Tamai, Hiroshi; Suzuki, Norio; Maeno, Masaki; Yamauchi, Toshihiko; not registered; Ogawa, Hiroaki; Sengoku, Seio; Uehara, Kazuya; Sato, Masayasu; not registered; not registered; Ogawa, Toshihide; Oasa, Kazumi; Kawakami, Tomohide; Kasai, Satoshi; not registered; Maeda, M.*; Hasegawa, Koichi; Ito, Kazuyuki*; Kashiwa, Yoshitoshi; Kikuchi, Kazuo; Koike, Tsuneyuki; Komata, Masao; Ouchi, Yutaka; Okano, Fuminori; not registered; Sawahata, Masayuki; Seki, Nobuo*; Shibata, Takatoshi; Suzuki, Sadaaki; Takeuchi, Hiroshi; Tani, Takashi; not registered; not registered

H-L遷移時にプラズマ周辺で起こっている現象を静電プローブにより測定し、その因果関係について調べた結果をまとめたものである。ピンを12本つけた静電プローブにより、スクレイプオフ層から主プラズマまでの領域を測定した。最前面にある3本ピンをトリプルプローブとして使用し、電子温度(T)と密度(n)を決定し、他のピンでは浮遊電位を測定した。浮遊電位と電子温度から求めた空間電子により径電場(E)を決定し揺動との関係を調べた。結果は、初めにセパラトリックス内に形成された負の径電場が減少し、次に揺動レベルの増大が起こり、電子温度が減少し、その後He光の増大が起こっていることを明らかにした。ここで、H-モード中に形成されている負の径電場は、-22kV/mであり、電子温度減少の直前で-8kV/mであった。またこの変化に要した時間は約200secである。

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