JT-60NBIにおけるドリフト管内の再電離損失の概算法

Estimation method of reionization loss in the drift ducts for JT-60 NBI

Matsuoka, Mamoru; Akiba, Masato; Usui, Katsutomi; Ohara, Hiroshi; Ohara, Yoshihiro; Kuriyama, Masaaki; Horiike, Hiroshi

JT-60では、中性子入射装置の真空容器と本体真空容器とを結ぶドリフト管内の再電離損失を近傍の真空度等を基に算出している。本メモはその算出法をまとめたものである。この方法により求めた再電離損失は入射開始当初入射パワーの50%にも及ぶと見積もられた。これはドリフト管内壁からのアウトガスによる。その後約30ショットのビーム入射により内壁はほぼ完全に枯化し、プラズマの周辺圧力にもよるが再電離損失は約5%に落ち着くことがわかった。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 89-075
ページ数	:	21 Pages
発行年月	:	1989/06
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-89-075.pdf:0.7MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-89-075
キーワード	:	再電離損失; JT-60; NBI; アウトガス; コンディショニング
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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登録番号 : M19890075
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