Stacking-fault-induced intermediate structure in bismuth titanate

積層欠陥により誘起されたチタン酸ビスマスの中間構造

米田 安宏   ; 水木 純一郎; 片山 良子*; 八木 健一郎*; 寺内 暉*; 濱崎 真一*; 高重 正明*

Yoneda, Yasuhiro; Mizuki, Junichiro; Katayama, Ryoko*; Yagi, Kenichiro*; Terauchi, Hikaru*; Hamazaki, Shinichi*; Takashige, Masaaki*

チタン酸ビスマス(BiTiO)を急冷してアモルファス化すると、再結晶過程で、BiTiOとは異なる中間構造が出現する。この中間構造は二成分からなっており、一つはパイロクロア型のBiTiOで、もう一つはパイロクロア相の出現によって過剰となったビスマスの積層欠陥によって生じている、本来は安定な構造をとらないBiWO-likeな構造であることがわかった。

We observed an intermediate structure during the re-crystallization process from the amorphous state of BiTiO prepared by rapid quenching. The intermediate structure which appears during the re-crystallization process consists of two phases; one is pyrochlore BiTiO phase and the other is a stacking-fault induced structure under the excessive Bi condition. The microstructure of the stacking-fault induced structure was investigated by synchrotron X-ray diffraction. In the case of a large number of BiO, some are inserted between the pseudo-perovskite layers of BiTiO, and a non-stoichiometric BiWO-like structure is stabilized.