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Post-spinel transition in Mg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$ determined by high ${it P-T}$ in situ X-ray diffractometry

その場X線回折によって決定されたMg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$のポストスピネル相転移

桂 智男*; 山田 均*; 新名 亨*; 久保 敦*; 小野 重明*; 神崎 正美*; 米田 明*; Walter, M. J.*; 伊藤 英司*; 浦川 啓*; 舟越 賢一*; 内海 渉

Katsura, Tomoo*; Yamada, Hitoshi*; Shimmei, Toru*; Kubo, Atsushi*; Ono, Shigeaki*; Kanzaki, Masami*; Yoneda, Akira*; Walter, M. J.*; Ito, Eiji*; Urakawa, Satoru*; Funakoshi, Kenichi*; Utsumi, Wataru

Mg$$_{2}$$SiO$$_{4}$$のポストスピネル相転移境界をKawai型高圧装置と放射光を組合せた高温高圧下その場X線回折実験により再決定した。その結果、1550$$sim$$2100Kにおける相境界は、約22GPaであり、地球内部660Km不連続が想定されている圧力より1$$sim$$1.5GPa低かった。

no abstracts in English

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パーセンタイル:5.42

分野:Geochemistry & Geophysics

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