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Fission xenon release from lightly irradiated(Th,U)O$$_{2}$$ powders

軽照射(Th,U)O$$_{2}$$粉体からの核分裂キセノンの放出

柴 是行; 伊藤 昭憲; 宇賀神 光弘

Shiba, Koreyuki; not registered; Ugajin, Mitsuhiro

各種(Th,U)O$$_{2}$$粉末からの$$^{1}$$$$^{3}$$$$^{3}$$Xe放出量を低照射量における照射後実験法により測定した。試料のウラン濃度は0.15~20モル%の範囲であった。放出の加熱曲線の形状はすべてほぼ同様であったが、照射下放出量と1000$$^{circ}$$Cまでの照射後放出量との和で表される全放出率は、通称純ThO$$_{2}$$を除き、ウラン濃度とともに増大した。雰囲気、温度、化学量論性などの調整条件の効果も同時に検討したが、その効果は小さいことがわかった。これらの実験データに基き、放出機構を議論した

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分野:Materials Science, Multidisciplinary

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