使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 141-143 |
号 |
: | |
ページ数 |
: | p.396 - 400 |
発行年月 |
: | 1986/00 |
キーワード |
: | セラミックス; SiN; 電気伝導度; 絶縁材料; 組織観察; X線回折; 結晶構造; 析出物; 電子顕微鏡(SEM,TEM) |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル:32.47 分野:Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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