JT-60分光計測用機器の耐放射線性試験; 臨界プラズマ試験装置設計報告,126

Irradiation Effcts on Components of Spectroscopic Measurement Device for JT-60 Diagonostics

西谷 健夫; 杉江 達夫; 田中 隆一; 中村 義輝; 平尾 敏雄; 金子 哲*; 森 治通*; 山下 貴司*; 金原 政男*; 永田 浩*; 松本 明*; 中澤 正治*; 前田 彦祐

not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered

JT-60の分光計測を構成する部品の内、光電子信管、シリコンフォトダイオード、回路系、ガラス面板、ミラ、回析格子、光学ガラスにいて線照射試験を一部中性子照射試験を行った。光電子増管とシリコンフォトダイオードは線に対し感度を有し、さらに光電子増倍管は照射により暗電流が増加した。アナログ回線は照射中も正常に動作したが、デジタル回路では10R/hでカウンタが破損した。ガラス面板は、石英ガラスが線の影響が最も少ないことがわかった。ミラーおよび回析格子は照射による影響がみられなかった。光学ガラスについては、線による着色が少ないノンブラウンガラスが中性子に対しても着色が少ないことがわかった。

no abstracts in English