高放射性廃棄物処理に関する分析(VI)螢光X線法によるガラスの分析(I)

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大内 義房; 大西 紘一; 加藤木 賢; 小林 喜治*

Ouchi, Yoshifusa; not registered; not registered; not registered

高放射性廃液の固化処理技術開発に関連してガラス固化の開発が進められている。これらに伴いガラス固化体中の成分分析が必要となる。現在はすでに確立した原子吸光法および発光分光法などによって依頼分析に対処しているが,分析元素が20数元素もあり,操作が簡単で迅速しかも精度の高い分析法の関発が望まれていた。そこで迅速けい光X線分析法を適用するため先に調整したガラス作業標準試料(FXシリーズ)を用いて,けい光X線分析法を確立するため測定条件,補正係数の算出試験および補正定量法の検討を行った。検討結果は日常の依頼分析には十分使用でき,また今後の検討の基礎データーとして活用できるので第一報として取りまとめた。

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