Transport studies of carbon impurities using CH gas puffing in JT-60U

CHガスパフを用いたJT-60Uにおける炭素不純物輸送の研究

石本 祐樹; 後藤 純孝*; 新井 貴; 正木 圭; 宮 直之; 都筑 和泰; 朝倉 伸幸; 田辺 哲朗*

Ishimoto, Yuki; Goto, Yoshitaka*; Arai, Takashi; Masaki, Kei; Miya, Naoyuki; Tsuzuki, Kazuhiro; Asakura, Nobuyuki; Tanabe, Tetsuo*

外側ダイバータで発生する炭素不純物の輸送経路と堆積場所を明らかにするためにJT-60UにおいてCHガスを外側ダイバータプラズマへ入射する実験を行った。実験後、走査電子顕微鏡を用いてガス導入口近傍の外側ダイバータタイル断面を観察し、200ミクロンを超える堆積層を確認した。この堆積層の炭素同位体比を2次イオン質量分析装置を用いて計測した結果、堆積層中の炭素原子の約90%がCであることがわかった。このことから外側ダイバータにおいて発生した炭素不純物の大部分は堆積・損耗を繰り返して輸送されていると考えられる。また、第一壁上は、分析タイル中もっともCが少なかった。局所ガスパフポートと同一断面のCポロイダル分布と内側ダイバータ部のストライクポイントの頻度分布を比較したところ、Cのピークがわずかに排気スロット側に移動していた。さらに、可動静電プローブの計測から、プライベート領域に外側から内側ダイバータへのプラズマの流れがあることがわかっている。これらのことから、今回の実験期間及び実験条件においては、SOLだけではなく、プライベート領域の流れもCの輸送に大きな影響を与えている可能性がある。

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