Simultaneous imaging with a proton beam and an X-ray driven by a fs-intense laser

フェムト秒高強度レーザーによる陽子とX線による同時イメージング測定

織茂 聡; 余語 覚文; 小倉 浩一; 匂坂 明人; 森 道昭; 桐山 博光; 近藤 修司; 山本 洋一*; 下村 拓也*; 田上 学*; 中井 善基; 圷 敦; 金沢 修平; 大道 博行; 中村 衆*; 野田 章*; 岩下 芳久*; 大石 祐嗣*; 名雪 琢弥*; 藤井 隆*; 根本 孝七*; Choi, I. W.*; Yu, T.*; Ko, D.-K.*; Lee, J.*

Orimo, Satoshi; Yogo, Akifumi; Ogura, Koichi; Sagisaka, Akito; Mori, Michiaki; Kiriyama, Hiromitsu; Kondo, Shuji; Yamamoto, Yoichi*; Shimomura, Takuya*; Tanoue, Manabu*; Nakai, Yoshiki; Akutsu, Atsushi; Kanazawa, Shuhei; Daido, Hiroyuki; Nakamura, Shu*; Noda, Akira*; Iwashita, Yoshihisa*; Oishi, Yuji*; Nayuki, Takuya*; Fujii, Takashi*; Nemoto, Koshichi*; Choi, I. W.*; Yu, T.*; Ko, D.-K.*; Lee, J.*

高強度超短パルスレーザーを薄膜に照射することによって生成されるMeV級の陽子生成と、その応用研究を発表する。実験は原子力機構と韓国光州科学技術研究所で行った。照射レーザーは直径50mmで、p偏光,45度,焦点距離238mm(Fナンバー4.8)で照射強度3910W/cmである。ターゲットは銅テープ(5m厚)とポリミド(7.5m)を使用した。ニッケルのメッシュパターンを、陽子イメージはCR39を使用し、X線イメージはイメージングプレートを使用し測定した。

We are investigating an intense fs-laser driven MeV proton source using a thin foil, and its applications. Simultaneous imaging of a sample with a proton and an X-ray beams has been demonstrated by a ultra-short pulse higt intensity Ti:Sapphire laser systems at JAEA and GIST. For generating a short-pulse proton beams and X-rays, an intense laser pulse irradiates a tape targets. The p-polarized laser pulse with 50 mm diameter is focused onto the cupper tape target at 45 degree incident angle with focal length of 238 mm (F/4.8), giving an intensity on target of 3-910W/cm10. The cupper and polyimide tape was 5, 7.5 micron in thickness and 20 mm in width. The target system supplies a fresh surface to the focus spot at every shot. We obtained simultaneously the projection image of a Ni mesh pattern having a periodically structured pattern by the proton detected CR39 and X-rays detected on imaging plate.