JT-60U負イオン源の多孔ビーム軌道解析

Trajectory analysis of multi beam in negative ion source on JT-60U NBI system

Kamada, Masaki; Hanada, Masaya; Ikeda, Yoshitaka; Jiang, W.*

JT-60U N-NBIでは、これまでに3.2MW, 21sの入射に成功しているが、JT-60SAでは10MW, 100sへの高性能化が要求されている。この実現のためには、イオン源電極やビームライン機器への熱負荷を現行の2/3程度まで低減する必要がある。そこで、熱負荷の原因解明のために、空間電荷を考慮した3次元ビーム軌道計算コードを用いて、多孔大面積負イオン源のビーム光学について調べた。その結果、ビームレット間相互作用によるビーム偏向が、熱負荷の一因であることを明らかにした。

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使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	プラズマ・核融合学会第23回年会
開催年月	:	2006/11
開催都市	:	つくば
開催国	:	日本
キーワード	:	no keyword

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受委託・共同研究相手機関	:	長岡技術科学大学

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登録番号 : BB20062416
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