Molecular analysis of ion beam-irradiated orchids

イオンビームで照射したランの分子解析

Affrida, A. H.*; Zaiton, A.*; Sakinah, A.*; Mohd Nazir, B.*; 田中 淳; 鹿園 直哉; 大野 豊; 長谷 純宏

Affrida, A. H.*; Zaiton, A.*; Sakinah, A.*; Mohd Nazir, B.*; Tanaka, Atsushi; Shikazono, Naoya; Ono, Yutaka; Hase, Yoshihiro

イオンビームによる突然変異育種は、ランの改良のための新しい方法として有用である。ランのプロトコム様体に炭素イオンを2から12Gy照射し、得られた苗木のゲノムDNAの多形についてAFLP(Amplified Fragment Length Polymorphism)法を用いて解析した。その結果、4Gy照射区において、最も多くのDNAの多形が検出された。このように、AFLP解析は照射されたランの苗木のDNA多形を検出するのに有効であった。今後、AFLP解析に用いるオリゴヌクレオチドプライマーを改良し、照射されたラン苗木の遺伝的変異を詳細に解析し、多形が検出された苗木の形態変化を追跡調査していく予定である。

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