集束方式10MeV/u級重イオンマイクロビーム装置における空間分解能の評価

Evaluation of a spatial resolution in 10 MeV/u class focusing heavy ion microbeam system

及川 将一*; 佐藤 隆博; 柏木 啓次; 宮脇 信正; 倉島 俊; 奥村 進; 横田 渉; 神谷 富裕

Oikawa, Masakazu*; Sato, Takahiro; Kashiwagi, Hirotsugu; Miyawaki, Nobumasa; Kurashima, Satoshi; Okumura, Susumu; Yokota, Wataru; Kamiya, Tomihiro

原子力機構高崎研究所のイオン照射研究施設(TIARA)では、AVFサイクロトロン(K=110)の垂直ビームコースにおいて集束方式重イオンマイクロビーム装置の開発を進めている。本装置は、高LET重イオンを空間分解能1mのマイクロビームにするとともに、単一照射(シングルイオンヒット)が可能であることを特徴としており、細胞の放射線応答機構の解明や宇宙用半導体のシングルイベント発生機構の解明などにおいて強力なツールとなることが期待されている。空間分解能の評価実験では260MeV Neビームを用い、Cuグリッドをターゲットとした2次電子イメージングと、固体飛跡検出器(CR-39)へのシングルイオンヒットによるビームサイズ計測を行った。その解析の結果、半値幅をとることにより各々、0.65m0.67m及び0.79m0.64mと見積もられ、目標の1mよりも高い空間分解能を達成できることが明らかになった。

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