軟X線光電子分光によるカーボンナノチューブへの原子状水素照射の影響の解析

Soft X-ray photoelectron spectroscopy study of atomic hydrogen exposure on carbon nanotubes

登倉 明雄*; 前田 文彦*; 高木 大輔*; 本間 芳和*; 吉越 章隆 ; 寺岡 有殿; 渡辺 義夫*; 小林 慶裕*

Tokura, Akio*; Maeda, Fumihiko*; Takagi, Daisuke*; Homma, Yoshikazu*; Yoshigoe, Akitaka; Teraoka, Yuden; Watanabe, Yoshio*; Kobayashi, Yoshihiro*

われわれはカーボンナノチューブ(CNT)の化学的表面修飾の観点で水素化処理に注目している。細いCNTが大きな曲率に起因する歪みによって化学的に活性となると、選択的表面修飾による電子物性制御が期待される。そこで、実際に表面水素化反応に径依存性があるのか検証する目的で単層ナノチューブ(SWNT)と多層ナノチューブ(MWNT)の垂直配向膜を試料として、活性化した水素を照射したCNTの表面化学状態を、SPring-8のBL23SUにおいて表面敏感で化学的な反応を解析できる軟X線放射光を用いた光電子分光により分析した。細く曲率の大きいCNTほど表面の反応性が高いことを示唆する結果を得た。

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