検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Existence and origin of compensation layer thickness in Tb$$_{20}$$Co$$_{80}$$/Pd multilayered films

Tb$$_{20}$$Co$$_{80}$$/Pdマルチレーヤーフィルムの厚さ依存性

田中 真人*; 朝日 透*; 安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 佐山 淳一*; 逢坂 哲彌*

Tanaka, Masahito*; Asahi, Toru*; Agui, Akane; Mizumaki, Masaichiro*; Sayama, Junichi*; Osaka, Tetsuya*

本研究は垂直磁気記録材料の候補の一つであるTbCo/Pd多層膜の示す複雑な垂直磁気異方性の起源を軟X線吸収スペクトル(XAS),磁気円二色性(MCD)の層厚変化を測定した。その結果、補償層厚前後でCoからTbへ優勢モーメントが反転すること、補償層厚においてもMCDは観測され、CoとTbでほぼ同じ強度で向きが反対の磁気モーメントを持つためにマクロでは磁性を有しないように見えること、層厚によってはESMHループとマクロな磁化曲線の形状が異なることなどが明らかになった。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:24.13

分野:Physics, Applied

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.