の散漫散乱,2, 2Xianglian*; Basar, K.*; Siagian, S.*; 佐久間 隆*; 高橋 東之*; 井川 直樹 
Xianglian*; Basar, K.*; Siagian, S.*; Sakuma, Takashi*; Takahashi, Haruyuki*; Igawa, Naoki
超イオン電導体の結晶中の乱れは、格子構造の無秩序分布と原子の熱振動による乱れを含んでいる。これらの乱れは回折パターン中の散漫散乱として現れる。本研究ではフッ素イオン電導体であるPbFについて室温から773Kまでの温度範囲において粉末中性子回折測定を行い、得られた散漫散乱強度に関する格子欠陥と原子の熱振動の相関効果について検討した。
The diffuse scattering in superionic conductive crystals includes the disorder of crystal structure and thermal vibration. We carried out the neutron diffraction experiment of PbF in the temperature range from room temperature to 773K, and discuss the correlation effects of defects in ionic crystal and thermal vibration of atoms on the diffuse scattering.
発表言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | |
号 |
: | |
ページ数 |
: | |
発行年月 |
: | |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2008/03 |
開催都市 |
: | 東大阪 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
: |
|
|---|---|---|
使用施設 |
: | |
論文解説記事 |
: | |
受委託・共同研究相手機関 |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
被引用回数：