エネルギー分析型反射高速陽電子回折によるエネルギー損失スペクトルの測定

Measurement of energy loss spectrum using energy-filtered reflection high-energy positron diffraction

深谷 有喜   ; 橋本 美絵; 河裾 厚男; 一宮 彪彦

Fukaya, Yuki; Hashimoto, Mie; Kawasuso, Atsuo; Ichimiya, Ayahiko

結晶表面における電子ビームのエネルギー損失過程は、理論的には古くから調べられており、表面プラズモン励起が主要な過程であることがわかっている。最近では、反射高速電子回折(RHEED)を用いて、実験的に表面プラズモンの励起過程が詳細に調べられている。一方、陽電子を用いた結晶表面でのエネルギー損失過程の研究は非常に少ない。そこで本研究では、エネルギー分析器を備えた反射高速陽電子回折(RHEPD)装置の開発を行い、陽電子回折の特徴である全反射陽電子ビームのエネルギー損失スペクトルを測定した。Si(111)-77表面からの全反射条件下における鏡面反射強度のエネルギー損失スペクトルを測定したところ、ゼロロス近傍にて明瞭な2つの損失ピーク(約10と20V)が観測できた。これらのピークは、それぞれ1回,2回表面プラズモンを励起したものに対応する。また、ゼロロスピークに比べ、これらの損失ピークの強度が大きいことから、全反射した陽電子は、表面プラズモンを多数励起していることがわかった。

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