の高エネルギーイオン照射による損傷,2, 2大原 宏太; 石川 法人 
; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*
Ohara, Kota; Ishikawa, Norito; Sakai, Seiji; Matsumoto, Yoshihiro; Michikami, Osamu*; Ota, Yasuyuki*; Kimura, Yutaka*
高エネルギーイオン(200Mev Au)を照射したCeO薄膜中に形成されるイオントラック内の酸素欠損状態をX線回折,ラマン分光により解析した。イオン照射したセラミックス中に形成されるイオントラックは、非晶質状態であることが多いが、CeOではイオントラック内が結晶構造を保っている。そのため、結晶構造や結合状態を調べることにより、イオントラック内の情報を抽出できるのではないかと考えた。イオントラック内での酸素欠損状態を反映した物性変化が観測されると同時に、照射表面付近でイオントラック内の酸素欠損が顕著であることを示唆する結果を得た。
High energy ion irradiation is performed for CeO ceramics. X-ray diffraction and raman spectroscopy analysis suggest that oxygen-deficient ion-track is formed after the irradiation.
使用言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | |
号 |
: | |
ページ数 |
: | |
発行年月 |
: | |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2008/09 |
開催都市 |
: | 盛岡 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
: |
|
|---|---|---|
使用施設 |
: | |
論文解説記事 |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
被引用回数：