大気環境下及び溶液環境下における金表面上におけるS K吸収端の蛍光XAFS測定

Analysis of S K-edge on Au surface under atmosphere and solution environment using Fluorescence XAFS

本田 充紀   ; 関口 哲弘  ; 馬場 祐治  ; 下山 巖   ; 平尾 法恵; 成田 あゆみ

Honda, Mitsunori; Sekiguchi, Tetsuhiro; Baba, Yuji; Shimoyama, Iwao; Hirao, Norie; Narita, Ayumi

近年金とイオウの強い結合を利用した生体分子バイオセンサーのテンプレートなどの研究が注目を浴びているが、生体分子自身の機能を最大限に生かした機能素子を考えるとき、溶液環境下や大気環境下での挙動を知ることは大変意義深い。例えば電気化学バイオセンサーなどの生体分子センシングについて、センシングを伴う反応前後の吸着構造の変化を内殻電子状態の変化から知ることは重要でDNAやタンパク質中のリンやイオウ元素について軟X線を用いた研究は強力なツールと言えるが、金表面上のイオウについて溶液や大気環境下でK吸収端は知ることは容易ではない。軟X線領域(100eV3keV)のX線は溶液中や大気中でのX線の減衰が非常に大きく、例えば大気中を3cm進むときX線は35%に減衰するなど、測定環境に制限があるため、全電子収量法によるXAFS測定ではなく蛍光X線収量を用いたXAFS測定を行う必要があるからである。今回、大気雰囲気下における金表面上でのL-システイン単分子膜のS K-edge蛍光XAFS測定の成功と溶液環境下での測定に成功したのでそれを報告する。

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