高速PEEM測定のためのポリキャピラリーX線集光レンズを用いた軟X線ビームの集光

Focusing test of soft X-rays using poly-capillary lens for the purpose of quick PEEM measurements

平尾 法恵; 馬場 祐治  ; 関口 哲弘  ; 下山 巖   ; 本田 充紀   ; 成田 あゆみ

Hirao, Norie; Baba, Yuji; Sekiguchi, Tetsuhiro; Shimoyama, Iwao; Honda, Mitsunori; Narita, Ayumi

放射光を用いたPEEMは固体表面における原子価状態,電子構造,分子配向などに依存した画像をナノメートル領域で観察できる有力な手法である。偏向電磁石からの放射光を用いた場合、現状では数秒のオーダーでナノスケールの画像を観察することができるが、表面反応ダイナミックスなどの高速現象を追跡するためには、より高速でPEEM像を観察する必要がある。そこで、最近開発されたポリキャピラリーX線レンズを使用し、軟X線領域(1.84.2keV)の放射光集光試験を行い、PEEM像観察に応用した。この結果、ポリキャピラリーX線レンズを用いることにより、ミリ秒オーダーでの画像観察ができる見通しが得られたので報告する。

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