Multiple X-ray coincidence method and its application to element quantification

多重X線同時計数法とその元素分析への適用

大島 真澄; 村上 幸弘*; 小泉 光生 ; 藤 暢輔   

Oshima, Masumi; Murakami, Yukihiro*; Koizumi, Mitsuo; Toh, Yosuke

これまでに、線同時計数法(多重線検出法)が核種分析において、高エネルギー分解能と高S/N比を実現する有効な手段であることを実証した。この手法の発展型としてX線同時計数法(多重X線検出法)を提案し、原子の励起手段として標準線源を使用して、元素分析に適用した結果について報告する。線源を用い、発生したX線を2台の低エネルギー線分析器(LEPS)で同時計数測定を行った。K-X線とL-X線の同時計数ピークが観測され、同時計数測定が可能であることを示し、またS/N比の改善効果を実証した。

So far we have demonstrated that the -ray coincidence method (the multiple -ray detection method) is a versatile method to achieve high resolution and high signal-to-noize ratio in nuclide determination. To extend this method we propose the X-ray coincidence method (the multiple X-ray detection method). We present a result of this method by using two low energy photon spectrometers and a standard -ray source of for activation of atoms. We could observe a peak in two dimensional X-ray matrix, which originates from coincidence of K-X and L-X rays. We demonstrated that background is reduced on the matrix.