CeOの高エネルギーイオン照射による損傷,3

Radiation damage in CeO irradiated with high energy ions, 3

大原 宏太; 石川 法人   ; 境 誠司; 松本 吉弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 木村 豊*

Ohara, Kota; Ishikawa, Norito; Sakai, Seiji; Matsumoto, Yoshihiro; Michikami, Osamu*; Ota, Yasuyuki*; Kimura, Yutaka*

CeO薄膜への200MeV Auの照射に伴って、CeOの(002)面の反射に起因するX線回折ピークの低角度側に肩(新しいピークとみなせる)が成長し、さらに新しいラマンバンドが成長することを確認している。イオントラック内部の酸素欠損構造を反映していると仮定すると、上記の損傷データが説明できることを前回まで報告してきた。今回は、照射に伴って現れる新しいX線回折ピークはイオントラック内部の結晶構造を反映している、という解釈をさらに進めて、イオントラックによる重畳の効果も説明できるモデルの構築を試みた。X線回折ピークの肩を、イオントラックを反映したピークと仮定して、そのピーク強度の照射量依存性を解析した。イオントラックの試料内の占有率の照射量依存性を計算により予測し、重畳の効果を考慮すればX線回折データが定性的に説明できることを明らかにした。

Irradiation-induced new X-ray diffraction peak is analyzed based on the model that nano-meter size ion tracks are formed in ion-irradiated CeO. X-ray diffraction profile can be interpreted by taking account of overlapping effect.