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MeV級プロトンビームによる発光を利用したエミッタンス測定,2

Emittance measurement using scintillator luminescence induced by MeV proton beams, 2

横山 彰人; 石井 保行; 千葉 敦也; 宇野 定則; 上松 敬; 高山 輝充*; 江夏 昌志*

Yokoyama, Akihito; Ishii, Yasuyuki; Chiba, Atsuya; Uno, Sadanori; Agematsu, Takashi; Takayama, Terumitsu*; Koka, Masashi*

原子力機構高崎量子応用研究所のシングルエンド加速器のビームラインの一つにマイクロビーム形成装置が設置されており、直径数$$mu$$mのマイクロビームをPIXEやPBWなどの分析・加工技術に利用してさまざまな研究が行われている。近年のPIXEやPBWなどの技術の向上に伴い、十分なビーム量を有するナノオーダーのビーム径での実験が望まれている。これをビームの高輝度化によって実現するために、イオン源から引き出されるビームのエミッタンスの縮小化を進めている。2007年度に高角度分解能エミッタンスモニターの開発に着手し、0.02mradの角度分解能を得た。2008年度にはエミッタンスモニターに入射するビームのアライメントの修正を行うとともに、発光点数を増やすためにスリット穴の間隔を1.5mmから0.5mmに変更した。これにより空間分解能が従来の3倍に向上し、正確なエミッタンス値が測れるようになった。ビームの輝度は0.77A$$cdot$$m$$^{-2}$$$$cdot$$sr$$^{-1}$$$$cdot$$eV$$^{-1}$$であり、ナノオーダー径のビーム形成には数十倍の増強が必要であることがわかった。

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