イオンビーム照射したキク苗からの無側枝性有望個体のインビトロ選抜法

In vitro screening method for less-axillary bud candidates from ion beam irradiated Chrysanthemum seedling

浅見 逸夫*; 福田 至朗*; 黒柳 悟*; 山田 眞人*; 長谷 純宏; 鳴海 一成

Asami, Itsuo*; Fukuta, Shiro*; Kuroyanagi, Satoru*; Yamada, Masato*; Hase, Yoshihiro; Narumi, Issei

本研究は、愛知県育成一輪ギク品種にイオンビームを照射して、無側枝性や低温開花性を持つ新品種を創成することが最終目標である。しかし、無側枝性や低温開花性は、それぞれの形質が発揮される季節でしか評価できないため、選抜・育成に時間がかかる。そこで、イオンビーム照射したキク苗を、一年中、同条件で栽培できる組織培養室内で評価する方法を検討した。その結果、インビトロ選抜法を用いることによって、イオンビーム照射がいつの時期であっても、無側枝性を評価することが可能であることがわかった。有望個体が得られた場合は、さらに、セルトレイ選抜法や実際に栽培施設内で評価することによって、育成期間を短縮化できると考えられた。

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