X線吸収分光法によるシリコンポリマーの自己組織化に関する研究

Self-ordering of silicon polymer studied by X-ray absorption spectroscopy

Mannan, M. A.; 馬場 祐治  ; 関口 哲弘  ; 下山 巖   ; 平尾 法恵; 成田 あゆみ; 永野 正光*; 野口 英行*

Mannan, M. A.; Baba, Yuji; Sekiguchi, Tetsuhiro; Shimoyama, Iwao; Hirao, Norie; Narita, Ayumi; Nagano, Masamitsu*; Noguchi, Hideyuki*

シリコンポリマーは、炭素系ポリマーに比べ、価電子帯と伝導帯間(HOMO-LUMO間)のエネルギーギャップが小さいため、一次元方向に優れた電子伝導特性を持つため、その薄膜は新しい電子材料,光学材料として注目されている。このような一次元物資の薄膜の物性は、分子の配向(ポリマーの向き)に大きく依存する。そこで、最も簡単なシリコンポリマーであるポリジメチルシラン(PDMS)を種々の表面上に蒸着し、その配向について放射光の偏光特性を使ったX線吸収分光法により調べた。その結果、導電性酸化物であるインジウムスズ酸化物(ITO)表面に蒸着した多層膜PDMSのシリコン骨格は表面に垂直であることがわかった。また、加熱による配向変化,他の基板表面における配向などについても発表する。

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