X線吸収端微細構造の偏光依存性により見いだしたシリコンポリマーの自己秩序化

Self-ordering of silicon polymer studied by polarization-dependent NEXAFS

Mannan, M. A.; 馬場 祐治  ; 関口 哲弘  ; 下山 巖   ; 平尾 法恵; 成田 あゆみ; 永野 正光*; 野口 英行*

Mannan, M. A.; Baba, Yuji; Sekiguchi, Tetsuhiro; Shimoyama, Iwao; Hirao, Norie; Narita, Ayumi; Nagano, Masamitsu*; Noguchi, Hideyuki*

シリコンポリマーは、炭素系ポリマーに比べ、価電子帯と伝導帯のエネルギーギャップが小さいため、一次元状の電気伝導特性に優れた物質として注目されている。薄膜全体としてのポリマーの電気的、光学的特性は、電子構造だけでなく、分子配向にも依存する。そこで、最も簡単なシリコンポリマーであるポリジメチルシランを種々の固体基板表面に精密に蒸着し、その電子構造と配向を、直線偏光した放射光を用いたX線吸収端微細構造法(NEXAFS)により調べた。その結果、多層蒸着膜では、ポリマーの向きが自己組織化的にそろい、分子軸が表面に垂直になることがわかった。また、基板物質の種類,薄膜の厚み,温度などによる配向変化についても報告する。

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