Structural analysis of Si(111)--(Ag, Cs) surface by reflection high-energy positron diffraction

反射高速陽電子回折によるSi(111)--(Ag, Cs)表面の構造解析

深谷 有喜   ; 松田 巌*; 湯川 龍*; 河裾 厚男

Fukaya, Yuki; Matsuda, Iwao*; Yukawa, Ryu*; Kawasuso, Atsuo

反射高速陽電子回折を用いて、Si(111)--(Ag,Cs)表面超構造の原子配置を調べた。動力学的回折理論に基づくロッキング曲線の解析から、Cs原子は、下地の-Ag構造から3.04Aの高さに位置し、一辺10.12Aの三角形構造を形成していることを明らかにした。このCs原子の吸着位置は、貴金属吸着により発現するSi(111)--AgやSi(111)--(Ag,Au)表面とは大きく異なっており、アルカリ金属と貴金属の電子構造の違いにより、この差が生じたと考えられる。

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