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デイスラプションコードを用いたJT-60Uのネオンガスパフディスラプション解析

Analysis of neon gas-puff disruption in the JT-60U tokamak by using DINA disruption simulation code

河上 翔*; 大野 哲靖*; 渡邊 清政*; 柴田 欣秀; 岡本 征晃*; 宮本 斉児; 諫山 明彦; 杉原 正芳*; 河野 康則; Lukash, V. E.*; Khayrutdinov, R. R.*

Kawakami, Sho*; Ono, Noriyasu*; Watanabe, Kiyomasa*; Shibata, Yoshihide; Okamoto, Masaaki*; Miyamoto, Seiji; Isayama, Akihiko; Sugihara, Masayoshi*; Kawano, Yasunori; Lukash, V. E.*; Khayrutdinov, R. R.*

JT-60Uの大量ネオンガスパフによるディスラプション実験において、電流減衰の初期段階の内部インダクタンス$$ell_i$$の増加が電流減衰時間の値に影響を及ぼすことが以前実験的に検証されたが、物理機構は十分解明されていなかった。本研究では、2次元軸対称シミュレーションコードDINAを用いることにより、ディスラプション中の電子温度分布が$$ell_i$$の時間変化に与える影響を解析した。まず、電子温度分布を空間一定とした場合、$$ell_i$$は実験での観測とは逆に時間的に減少した。次に、実験時に得られた電子温度分布を用いて計算した場合、$$ell_i$$は時間的にほぼ一定となった。このことは、電子温度の分布を考慮することで$$ell_i$$を実験結果を再現する方向に近づけることができるものの、これだけでは不十分であることを示唆している。今回の計算では計測の困難さなどの理由から空間一定としているパラメータがあるが、これらの分布も$$ell_i$$の時間変化に影響を及ぼしている可能性がある。

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