森田 陽亮*; 中嶋 薫*; 鈴木 基史*; 木村 健二*; 鳴海 一雅; 齋藤 勇一; 石川 法人 
; 北條 喜一; 辻本 政彦*; 磯田 正二*
Morita, Yosuke*; Nakajima, Kaoru*; Suzuki, Motofumi*; Kimura, Kenji*; Narumi, Kazumasa; Saito, Yuichi; Ishikawa, Norito; Hojo, Kiichi; Tsujimoto, Masahiko*; Isoda, Shoji*
非晶質Si
N
薄膜に120-720keV C
, C
イオンを照射し、非晶質材料中に形成されたイオントラックを透過型電子顕微鏡(TEM)で直接観測した。さらに、定量的な解析のため、高角散乱環状暗視野走査透過型顕微鏡法(HAADF-STEM)を用いてイオントラックを観測した。その結果、イオントラックの構造は低密度コア(半径約2.5nm)と高密度シェル(幅約2.5nm)からなり、高エネルギー重イオン照射によって非晶質SiO
中に形成されたイオントラックを小角X線散乱法(SAXS)で観測した結果とよく似ていることがわかった。このことは、材料と照射イオン種によらず、コア-シェル構造が非晶質材料中に形成されるイオントラックの普遍的な特徴であることを示唆する。また、イオントラック半径の観測から、今回のエネルギー領域では、核的阻止能もまたトラック形成にかかわり、電子的阻止能よりも効果が高いことが見いだされた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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発行年月 |
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発表会議名 |
: | 25th International Conference on Atomic Collisions in Solids (ICACS-25) |
開催年月 |
: | 2012/10 |
開催都市 |
: | Kyoto |
開催国 |
: | Japan |
キーワード |
: | no keyword |
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論文解説記事 |
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