民生用電子部品の宇宙環境における耐放射線性の研究

Study on radiation effects of commercial-off-the-shelf devices in space environment

前田 高広*; 垣見 征孝*; 佐々木 直樹*; 明石 健二*; 大島 武; 小野田 忍

Maeda, Takahiro*; Kakimi, Yukitaka*; Sasaki, Naoki*; Akashi, Kenji*; Oshima, Takeshi; Onoda, Shinobu

開発中の50cm級小型衛星(SOCRATES)で使用する予定の民生電子部品の耐放射線性を評価した。具体的な半導体素子は、SOCRATESに搭載予定のFET(トランジスタ), MPU(マイクロプロセッサ), MUX(マルチプレクサ)である。LET(線エネルギー付与)の異なる窒素,ネオン,アルゴン,クリプトンの4線種の重イオンをこれらの半導体素子に照射し、シングルイベント効果のLET依存性を調べた。LET依存性と軌道上での放射線量を考慮して、軌道上でのシングルイベント発生確率を求めた。評価の結果、FET, MPU, MUXは、シングルイベント発生確率が運用期間に対し低く、SOCRATESへの搭載にあたって十分な信頼性が確保できることがわかった。このように、放射線試験を実施することで、小型衛星開発に民生電子部品を利用することができ、リソースの制限を満たしつつ、衛星の信頼性を確保することができるようになった。

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